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EFFIZIENT UND ZUVERLÄSSIG

GT 4210

Das 20-Slot-Testsystem GT 4210 ist für Applikationen bis zu 2.080 Pins oder für den 2-fachen Paralleltest mit je 800 Pins optimal ausgestattet. Über ein Erweiterungs-Chassis können zusätzlich bis zu 2.560 Pins ergänzt werden. Optional sind zwei Cartridges möglich.

Unsere kompakten Testsysteme sind modular aufgebaut und sind für den Funktionstest, den In-Circuit-Test, Boundary Scan und das Flashen in der Elektronikproduktion optimiert. Die Verwendung von offenen Standards (z. B. cPCI, PXI und PXIe) gewährleistet Ihnen ein Höchstmaß an Flexibilität und Erweiterbarkeit.

Bei Bedarf können Funktionalitäten wie Pneumatik, Vakuum oder Schalttechnik für HF-, Last- und Poweranwendungen über Cartridges erweitert werden.

Die integrierte Anzugsmechanik ermöglicht kurze Kabelwege und eine hohe Signalqualität.

Testsysteme

Unsere kompakten Testsysteme sind modular aufgebaut und sind für den Funktionstest, den In-Circuit-Test, Boundary Scan und das Flashen  in der Elektronikproduktion optimiert. Die Verwendung von offenen Standards (z. B. cPCI, PXI, PXIe und PCls) gewährleistet Ihnen ein Höchstmaß an Flexibilität und Erweiterbarkeit.

Bei Bedarf können Funktionalitäten wie Pneumatik, Vakuum oder Schalttechnik für HF-, Last- und Poweranwendungen über Cartridges erweitert werden.

Die integrierte Anzugsmechanik ermöglicht kurze Kabelwege und eine hohe Signalqualität.

Das 20-Slot-Testsystem GT 4210 ist für Applikationen bis zu 2.080 Pins oder für den 2-fachen Paralleltest mit je 800 Pins optimal ausgestattet. Über ein Erweiterungs-Chassis können zusätzlich bis zu 2.560 Pins ergänzt werden. Optional sind zwei Cartridges möglich.

Das 6-Slot-Testsystem GT 5106 ist für einfachere Applikationen bis zu 480 Pins oder massiv paralleles Testen geeignet. Durch das ultrakompakte Design können bis zu 3 Systeme innerhalb 19“ Breite verbaut werden. Optional sind eine Cartridge und ein Kabel-Dock möglich.