Testsysteme

Modulare Testsysteme

Unsere kompakten Testsysteme sind modular aufgebaut und für den Funktionstest, den In-Circuit-Test, Boundary Scan und das Flashen in der Elektronikproduktion optimiert. Die Verwendung von offenen Standards (z. B. cPCI, PXI, PXIe und PCls) gewährleistet ein Höchstmaß an Flexibilität und Erweiterbarkeit.

Bei Bedarf können Funktionalitäten wie Pneumatik, Vakuum oder Schalttechnik für HF-, Last- und Poweranwendungen über Cartridges erweitert werden. Die integrierte Anzugsmechanik ermöglicht kurze Kabelwege und damit eine hohe Signalqualität.


GT5106

Das 6-Slot-Testsystem GT 5106 ist für Applikationen mit bis zu 320/640 Testpunkten (ICT/FKT) und in Verbindung mit einem Erweiterungs-Chassis für Applikationen mit bis zu 1280 Testpunkte geeignet. Durch das ultra-kompakte Design können bis zu 3 Systeme innerhalb 19“ Breite verbaut werden. Optional sind eine Cartridge und ein Kabel-Dock möglich.

GT4210

Das 20-Slot-Testsystem GT 4210 ist für Applikationen mit bis zu 2080/2400 Testpunkten (ICT/FKT) oder für den 2-fachen Paralleltest mit je 800/1120 Testkanälen (ICT/FKT) optimal ausgestattet. Über ein Erweiterungs-Chassis können zusätzlich bis zu 2560 Testkanäle ergänzt werden. Optional sind zwei Cartridges möglich.